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LD测试座|极细间隔QFN测试座|晶振测温盘价钱

2020/1/5 2:30:44发布192次查看

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公司为你介绍一种:翻盖操作取换芯片简单,适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,我们的可以有球无球残球均可测试!
ld测试座
要根据实际的情况选用适当的材料,这样可大幅度的降低成本,同时通用可重复使用的底座也可大幅度的降低成本,并且使治具制作标准化方便制作,提高治具的质量。测试架中测试针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的。
极细间隔qfn测试座
测试座特点:以排针方式引出芯片所有引脚,引脚间距为2.54mm(100mil),板载jtag、swd、uart1接口,可直接对相关型号进行测试、烧写,板载高速外部晶振插座(晶振可自定义),板载低速外部晶振(32.768k),板载两个led,可用于测试状态指示(可跳开跳线,不占用i/o资源)
晶振测温盘
我们的测试座只要简单的更换触头,就可以确保可靠的测试性能。触头被固定一个接触模块上,该模块与被限位针固定的微带并排。测试座的上半部向下固定到被测器件板上,接触触头与微带之间的间距被压缩一半。要更换触头,只需把顶板拧开,取下接触模块,换上一个新接触模块,对齐并和顶板拧上,所需时间不到五分钟。
联系方式:
王二娜 18913270192
刘先生18913251369 
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